طور عالم صيني تقنية ذكاء اصطناعي تشخص إصابة الأطفال بالتوحد عبر مسح شبكية العين ابتداء من عمر 6 سنوات، ما يكشف مبكرا عن المرض أو خطر الإصابة به. ويقول الأستاذ بالجامعة الصينية في هونغ كونغ بيني زي: «يتيح مسح الشبكية فرص الاكتشاف أثناء مراحل النمو الأولى ما يضمن نتائج فعالة للعلاج»، مؤكدا أن التقنية ستتوفر خلال أشهر في الأسواق. وأجرى زي تجارب على 70 طفلا مستخدما كاميرا عالية الدقة وبرنامج كمبيوتر لتحليل مجموعة من العوامل بينها طبقات الألياف والأوعية الدموية في العين، ما مكن من تحديد المعرضين لخطر الإصابة بالتوحد بنسبة 95.7%، ونشر زي النتائج في دورية «إي.كلينيكال ميديسين».